|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| УСТРОЙСТВО ДЕФЕКТОСКОПИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ ОПТИЧЕСКИ ПРОЗРАЧНЫХ КРИСТАЛЛОВ |  |
Номер публикации патента: 2059228 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01N021/88 | | Аналоги изобретения: | 1. Патент ФРГ GE 3518043, кл. G 01N 21/88, 1986. 2. Патент США N 4764681, кл. G 01N 21/88, 1988. |
| Имя заявителя: | Самарское малое предприятие "Капитал" | | Изобретатели: | Кузнеченков А.А.
Скворцов Б.В.
Болгарцев А.С.
Плотников В.К.
Хазов В.В.
Булатов П.Н. | | Патентообладатели: | Самарское малое предприятие "Капитал" |
Реферат | |
Изобретение позволяет повысить точность контроля оптически прозрачных кристаллов, имеющих сложную конфигурацию. Сущность изобретения: источник 1 света создает с помощью оптической системы 2 равномерный световой поток, который, пройдя через кристалл 12, фокусируется оптической системой 3 и поступает на вход телекамеры 4. Видиосигнал, пройдя через блок 5 дифференцирования, поступает на устройство 6 обработки, где с помощью блоков 7 - 10 путем формирования соответствующих импульсов происходит подсчет перепадов освещенностей различных участков кристалла, которое для годных образцов всегда одинаково и запомнено в устройстве 11. Наличие дефекта в структуре кристалла приведет к появлению "лишних" перепадов освещенностей (импульсов в счетчике), которые позволяют отбраковать кристаллы. 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента