|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ВТОРИЧНО - ИОННЫЙ МАСС - СПЕКТРОМЕТР |  |
Номер публикации патента: 2012089 |  |
| Имя заявителя: | Московский энергетический институт | | Изобретатели: | Абесаломов М.К.
Афанасьев В.П.
Федорович С.Д.
Щербаков А.Ю. | | Патентообладатели: | Московский энергетический институт |
Реферат | |
Изобретение относится к экспериментальной физике, предназначено для анализа поверхности твердого тела и позволяет расширить функциональные возможности прибора посредством дополнительной регистрации оптического излучения, возникающего при взаимодействии первичного ионного пучка с поверхностью образца.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента