|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ВЫЯВЛЕНИЯ И ОЦЕНКИ МЕСТ ЗАКЛАДКИ В ПОМЕЩЕНИЯХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ УСТРОЙСТВ ДЛЯ НЕСАНКЦИОНИРОВАННОГО СЪЕМА РЕЧЕВОЙ И ВИЗУАЛЬНОЙ ИНФОРМАЦИИ |  |
Номер публикации патента: 2257012 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | H04M001/68 H04K003/00 G01S013/02 | | Аналоги изобретения: | RU 2205419 С2, 27.05.2003. RU 2219669 C1, 20.12.2003. RU 2166769 C1, 10.05.2001. WO 02/39140 A2, 16.05.2002. |
| Имя заявителя: | Световидов Владимир Николаевич (RU),Романов Владимир Иванович (RU),Пастухов Павел Петрович (RU) | | Изобретатели: | Световидов В.Н. (RU)
Романов В.И. (RU)
Пастухов П.П. (RU) | | Патентообладатели: | Световидов Владимир Николаевич (RU)
Романов Владимир Иванович (RU)
Пастухов Павел Петрович (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к технике противодействия коммерческому и промышленному шпионажу. Способ заключается в последовательном сканировании обследуемой поверхности нелинейным локатором, фиксировании и обработки полученных от нее откликов в ПЭВМ с отображением местонахождения полупроводниковых устройств.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента