Промышленная Сибирь Ярмарка Сибири Промышленность СФО Электронные торги НОУ-ХАУ Электронные магазины Карта сайта
 
Ника
Ника
 

Поиск патентов

Как искать?
Реферат
Название
Публикация
Регистрационный номер
Имя заявителя
Имя изобретателя
Имя патентообладателя

    





Оформить заказ и задать интересующие Вас вопросы Вы можете напрямую c 6-00 до 14-30 по московскому времени кроме сб, вс. whatsapp 8-950-950-9888

На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»


СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ЧИПОВ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ

Номер публикации патента: 2391744

Вид документа: C1 
Страна публикации: RU 
Рег. номер заявки: 2008152907/28 
  Сделать заказПолучить полное описание патента

Редакция МПК: 
Основные коды МПК: H01L031/18    
Аналоги изобретения: RU 2292610 C1, 27.01.2007. RU 2244986 C1, 20.01.2005. US 2004/040593 A1, 04.03.2004. US 5863497 A, 29.12.1998. US 5716459 A, 10.02.1998. US 5330585 A, 19.07.1994. 

Имя заявителя: Учреждение Российской академии наук Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН (RU) 
Изобретатели: Андреев Вячеслав Михайлович (RU)
Ильинская Наталья Дмитриевна (RU)
Калюжный Николай Александрович (RU)
Лантратов Владимир Михайлович (RU)
Малевская Александра Вячеславовна (RU)
Минтаиров Сергей Александрович (RU) 
Патентообладатели: Учреждение Российской академии наук Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН (RU) 

Реферат


Способ изготовления чипов фотоэлектрических преобразователей заключается в нанесении сплошного металлического омического контакта на тыльную поверхность структуры и локального металлического омического контакта на фронтальную поверхность многослойной полупроводниковой пластины со структурой n-Ge подложка, p-Al0,5GaAs и p-Al0,8GaAs эмиттер, p+-GaAs контактный слой, разделении структуры на чипы, пассивации боковой поверхности чипов диэлектриком, удалении части фронтального контактного слоя структуры и нанесении антиотражающего покрытия на светочувствительную область фронтальной поверхности структуры. Разделение структуры на чипы проводят через маску фоторезиста со стороны фронтальной поверхности структуры на глубину 15-50 мкм методом электрохимического травления в одном технологическом процессе с использованием одного электролита для травления полупроводниковой структуры и германиевой подложки. Изобретение обеспечивает улучшение параметров фотопреобразователя за счет создания ровной вертикальной стенки разделительной мезы, посредством травления структуры и германиевой подложки в одном технологическом цикле с использованием одного электролита на основе раствора глицерина и щелочи, и последующего проведения процесса пассивации боковой поверхности чипов. 7 ил.
Дирекция сайта "Промышленная Сибирь"
Россия, г.Омск, ул.Учебная, 199-Б, к.408А
Сайт открыт 01.11.2000
© 2000-2018 Промышленная Сибирь
Разработка дизайна сайта:
Дизайн-студия "RayStudio"