|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ФОТОЧУВСТВИТЕЛЬНАЯ МАТРИЦА |  |
Номер публикации патента: 2084990 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | H01L027/14 | | Аналоги изобретения: | 1. G. Destefanis et al. Receut Deve-lopments in IR Detectors at LIR. 3<SB>d</SB>Int. Conf. on Advanced Detectors & Syst. Jne 1986, London, pp.44-49. 2. L.Kozlowski et al. Large starring IR. FPAs of HgCdTe on altepnative substrates, SPIE, v.1540, IR Tech. XVII (1991), pp.250-261. R. Wood et al. Micromachined bolometer arraus achmve low cost imaging. Laser Focus World. v.29, N 6, June 1993, рр.101-106. 4. Л.Росадо. Физическая электроника и микроэлектроника.-М.: Высшая школа, 1991, с.159. 5. Ишанин Г.Г. и др. Источники и приемники излучения.-С.-Пб.: Политехника, 1991, с.211. 6. Тришенков М.А. Фотоприемные устройства и ПЗС. - М.: Радио и связь, 1992, с.44,45. |
| Имя заявителя: | Государственное предприятие Научно-производственное объединение "Орион" | | Изобретатели: | Таубкин И.И.
Тришенков М.А.
Стафеев В.И.
Эскин Ю.М. | | Патентообладатели: | Государственное предприятие Научно-производственное объединение "Орион" |
Реферат | |
Использование: в тепловизионных фотоприемных устройствах, работающих в режиме вещательного стандарта в спектральном диапазоне 8-12 мкм. Сущность: матрица содержит ячейки разложения изображения, включающие устройство преобразования-ввода сигнала, накопитель и элемент выборки. Каждая ячейка дополнительно содержит управляемый ключ и размещенный между устройством преобразования-ввода сигнала и накопителем, а накопитель выполнен в виде терморезистора. Каждая ячейка разложения изображения может дополнительно содержать управляемый ключ-ответвитель, соединенный с выходом устройства преобразования-ввода сигнала, а накопитель может быть выполнен с тепловой постоянной времени, соответствующей времени кадра. 2 з.п. ф-лы, 1 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента