На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
ОПТИЧЕСКИЙ СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ФЕРРИТОВ - ГРАНАТОВ | |
Номер публикации патента: 2157576 | |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | H01L021/66 | Аналоги изобретения: | RU 2093922 C1 20.10.1997. RU 20955885 C1 10.11.1997. GB 2244327 A 27.11.1991. GB 2302614 A 22.01.1997. |
Имя заявителя: | Московский государственный институт стали и сплавов (Технологический Университет) | Изобретатели: | Костишин В.Г. Медведь В.В. Летюк Л.М. Шипко М.Н. | Патентообладатели: | Московский государственный институт стали и сплавов (Технологический Университет) |
Реферат | |
Изобретение относится к физике твердого тела, в частности к оптической спектрофотометрии, и может быть использовано при отборе монокристаллов и эпитаксиальных пленок ферритов-гранатов. Сущность изобретения заключается в том, что в диапазоне длин волн = (0,45 - 0,65) мкм регистрируют спектры отражения образцов, а о их непригодности для производства приборов СВЧ-электроники и магнитооптики, требующих узкой ширины линии ФМР и минимального оптического поглощения, судят по наличию в спектрах отражения
|