На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ИК - СПЕКТРОСКОПИИ | |
Номер публикации патента: 2064714 | |
Редакция МПК: | 6 | Основные коды МПК: | H01L021/66 | Аналоги изобретения: | 1. Зи С. Физика полупроводниковых приборов.- М.: Мир, 1984, т.2, с. 347. 2. Там же |
Имя заявителя: | Овчинников Валерий Васильевич | Изобретатели: | Овчинников Валерий Васильевич | Патентообладатели: | Овчинников Валерий Васильевич |
Реферат | |
Использование: в области полупроводникового материаловедения для ИК-спектроскопии полупроводников и получения профилей изменения спектров по толщине образцов полупроводника. Сущность изобретения: в способе ИК-спектроскопии приповерхностного слоя полупроводников пластину полупроводника с исследуемой поверхностью приводят в контакт с раствором электролита, задают ток в цепи образец-электролит, а о поглощении излучения судят по изменению напряжения пробоя области объемного заряда в полупроводнике при фиксировании плотности анодного тока для полупроводника n-типа или катодного тока для полупроводника p-типа проводимости.
|