На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ КОНТРОЛЯ ОДНОРОДНОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ МАТЕРИАЛОВ | |
Номер публикации патента: 2032962 | |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | H01L021/66 | Аналоги изобретения: | 1. Кучис Е.В. Методы исследования эффекта Холла. М.: Сов.радио, 1974, с.56. |
Имя заявителя: | Институт физики Дагестанского научного центра РАН | Изобретатели: | Даунов М.И. Магомедов А.Б. | Патентообладатели: | Институт физики Дагестанского научного центра РАН |
Реферат | |
Изобретение относится к контролю параметров полупроводниковых материалов и может быть использовано для определения неоднородности кристаллов узкозонных полупроводниковых материалов с изотропно распределенными неоднородностями и одним типом носителя. О неоднородности материала судят по величине составляющей магнетосопротивление /нo = /o-/фo , где /o - величина поперечного магнетосопротивления: /фo - величина физической составляющей магнетосопротивления, которые измеряют на серии образцов при фикси
|