RU 2029409 C1, 20.02.1995. RU 98119225 A, 20.08.2000. RU 981114601 A, 10.05.2000. WO 2009009471 A2, 15.01.2009. CN 101075546 A, 21.11.2007.
Имя заявителя:
Шеретов Эрнст Пантелеймонович (RU)
Изобретатели:
Шеретов Эрнст Пантелеймонович (RU) Викулов Валерий Викторович (RU) Карнав Татьяна Борисовна (RU) Иванов Владимир Васильевич (RU) Петров Владимир Васильевич (RU) Шеретов Андрей Эрнстович (RU)
Патентообладатели:
Шеретов Эрнст Пантелеймонович (RU)
Реферат
Изобретение относится к области масс-спектрометрии и может быть использовано при создании квадрупольных масс-спектрометров пролетного типа с высокой разрешающей способностью и чувствительностью. Способ анализа ионов по удельным зарядам в квадрупольных масс-спектрометрах пролетного типа (монополь, триполь и фильтр масс) заключается в том, что анализируемые ионы вводят через входной канал в анализатор масс-спектрометра, селективно воздействуют на них высокочастотным квадрупольным полем, сортируя при этом ионы по удельным зарядам, и выводят отсортированные ионы через выходной канал на измерительное устройство. Сортировку ионов по удельным зарядам осуществляют за счет селективной фазовой и селективной двойной пространственной фокусировок избранных ионов на вход выходного канала. Технический результат - увеличение разрешения квадрупольных масс-спектрометров в десятки раз при 100% трансмиссии, повышение чувствительности в сотни раз в режиме высокой разрешающей способности, уменьшение длины электродной системы масс-спектрометра, увеличение скорости вводимых в анализатор ионов. 2 з.п. ф-лы, 5 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента