|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЛИТЕЛЬНОСТИ И ФАЗОВОГО ПОЛОЖЕНИЯ МИКРОСГУСТКОВ СТРУКТУРИРОВАННОГО ПУЧКА УСКОРЕННЫХ ЧАСТИЦ |  |
Номер публикации патента: 2069413 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | H01J047/00 | | Аналоги изобретения: | 1. Ломидзе Л.Г., Рубцов Б.А., Шмидт А.В. Высокочастотные методы измерения параметров сгруппированного протонного пучка. Труды I Всесоюзного совещания по ускорителям заряженных частиц, т.1, с.185, М., 1975. 2. Виноградов А.А. Курашов А.А., Оглоблин А.А. и др. Измерительный центр при циклотроне ИАЭ. - М.: Препринт ИАЭ-1876, 1969, с.19 - 20. |
| Имя заявителя: | Российский научный центр "Курчатовский институт" | | Изобретатели: | Михайлов В.Г.
Резвов В.А.
Рощин А.А.
Скляренко В.И.
Юдин Л.И. | | Патентообладатели: | Российский научный центр "Курчатовский институт" |
Реферат | |
Использование: в ускорительной технике, при диагностике выведенного структурированного пучка, например, циклотрона. Сущность изобретения: пучком ускоренных частиц ионизируют остаточный газ, электроны, образующиеся при этом, ускоряют поперечным электрическим полем, напряженность которого превышает напряженность собственного поля пучка. Затем формируют из ускоренных электронов пространственно ограниченный пучок, выделяют электроны с энергиями, соответствующими центральной области пучка, регистрируют их временное распределение на периоде ускоряющего напряжения, а о фазовом положении и длительности микросгустков структурированного пучка судят по временному статическому распределению зарегистрированных электронов. 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента