|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ АНАЛИЗА ОСТАТОЧНЫХ ГАЗОВ И ПАРОВ ВЕЩЕСТВ В ВАКУУМЕ |  |
Номер публикации патента: 2063091 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | H01J049/40 | | Дополн. коды МПК: | G01N030/72 | | Аналоги изобретения: | Грошковский Я. Технология высокого вакуума. - М.: Мир, 1975, с. 422. Там же, с. 435. Сыcоев А.А., Чупахин М.С. Введение в масс-спектрометрию. - М.: Атомиздат, 1977, c. 101 - 103 - прототип. |
| Имя заявителя: | Российский научно-исследовательский институт "Электронстандарт" | | Изобретатели: | Маркелов В.В. | | Патентообладатели: | Российский научно-исследовательский институт "Электронстандарт" |
Реферат | |
Использование: изобретение относится к методам контроля газов и паров веществ в вакууме по массовым числам. Сущность изобретения: анализируемый газ нагревают, порциями подают в пространство дрейфа в виде нейтральных частиц, регистрируют время пролета частиц через пространство дрейфа и определяют массовые числа по формуле: M=K·T/l2τ2@м, где M - молекулярный вес, а.е.м. ; l - длина зоны дрейфа, м; T - температура анализируемого газа, K, K - 1,66<195>104 - коэффициент пропорциональности; τм - время нахождения молекул в зоне дрейфа, с.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента