|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ДИАГНОСТИКИ КОМБИНАЦИОННЫХ ЛОГИЧЕСКИХ СХЕМ |  |
Номер публикации патента: 2017207 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G06F011/00 | | Аналоги изобретения: | Авторское свидетельство СССР N 1481769, кл. G 06F 11/00, 1989. |
| Имя заявителя: | Научно-исследовательский институт автоматики и электромеханики при Томском институте автоматизированных систем управления и радиоэлектроники | | Изобретатели: | Кудрявцев Н.Г. | | Патентообладатели: | Научно-исследовательский институт автоматики и электромеханики при Томском институте автоматизированных систем управления и радиоэлектроники |
Реферат | |
Изобретение относится к вычислительной технике и позволяет с высокой достоверностью осуществлять контроль комбинационных логических схем (КЛС). Способ основан на измерении числа логических перепадов на выходных полюсах логических схем. Отличается тем, что для модулей, соответствующих различным неисправностям диагностируемой КЛС, определяют коэффициенты прозрачности i-го входа на выход, подают на вход Xi исследуемой логической схемы меандр частоты Fм, имеющей значение, удовлетворяющее разрешающей
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента