На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»

Вернуться к списку

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ФИЗИЧЕСКИХ ПОЛЕЙ

Номер публикации патента: 2178188

Вид документа:  C2  Страна публикации:  RU  Рег. номер заявки:  99120917/28		Получить полное описание патента

Реферат

Изобретение относится к способам измерения параметров физических полей, предпочтительно динамических по характеру. Сущность: способ включает формирование волоконно-оптической измерительной системы из пересекающихся измерительных линий, выполненных из волоконных световодов, по которым одновременно пропускают когерентное световое излучение с фиксацией светового излучения на выходе сети, по которому восстанавливают состояние параметров физических полей в узлах пересечения измерительных линий. До начала процесса измерения формируют оптическую матрицу связи, для чего в интерференционной плоскости выходного светового излучения волоконно-оптической измерительной системы и дополнительного опорного светового сигнала размещают с возможностью поворота в этой плоскости оптический носитель информации, предпочтительно диск, на поверхности которого записывают элементы оптической матрицы связи, в качестве которых используют голографические дифракционные решетки, различающиеся по дифракционной эффективности, в количестве, соответствующем числу узлов волоконно-оптической измерительной системы. В процессе записи голографических дифракционных решеток регулируют соотношение интенсивностей выходного светового излучения волоконно-оптической измерительной системы и дополнительного опорного светового сигнала. Технический результат - восстановление координат исследуемых параметров. 3 з. п. ф-лы. 2 ил.

Вернуться к списку