Промышленная Сибирь Ярмарка Сибири Промышленность СФО Электронные торги НОУ-ХАУ Электронные магазины Карта сайта
 
Ника
Ника
 

Поиск патентов

Как искать?
Реферат
Название
Публикация
Регистрационный номер
Имя заявителя
Имя изобретателя
Имя патентообладателя

    





Оформить заказ и задать интересующие Вас вопросы Вы можете напрямую c 6-00 до 14-30 по московскому времени кроме сб, вс. whatsapp 8-950-950-9888

На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»


СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СРЕДНЕГО ЗАРЯДА ОТ НЕЙТРОНОВ В ИМПУЛЬСЕ КАМЕРЫ ДЕЛЕНИЯ

Номер публикации патента: 2142148

Вид документа: C1 
Страна публикации: RU 
Рег. номер заявки: 99102601 
  Сделать заказПолучить полное описание патента

Редакция МПК: 
Основные коды МПК: G01T001/28   G01T003/00    
Аналоги изобретения: SU 1531679 A1, 30.03.91. SU 1347737 A1, 27.03.97. GB 1168198 A, 22.10.69. US 4920271 A, 24.04.90. FR 2357915 A1, 03.02.78. 

Имя заявителя: Научно-исследовательский институт технологии материалов 
Изобретатели: Чукляев С.В.
Пепелышев Ю.Н.
Кошелев А.С.
Одинцов Ю.М. 
Патентообладатели: Научно-исследовательский институт технологии материалов
Чукляев Сергей Васильевич
Пепелышев Юрий Николаевич
Кошелев Александр Сергеевич
Одинцов Юрий Митрофанович 

Реферат


Изобретение относится к определению характеристики ионизационной камеры деления. Способ заключается в том, что камеру I, содержащую электрод 2 и делящийся материал 3, подключают к внешнему источнику электрического напряжения питания ИП и облучают потоком нейтронов. Измеряют электрический ток от нейтронов In (переключатель 4 в положение "I") и количество импульсов Nd в интервале времени &Dgr;t или скорость счета импульсов nd при различных значениях уровня дискриминации Ud в определенном интервале, внутри которого абсолютное значение наклона зависимости Nd или nd от Ud принимает минимальное значение. При этом, по крайней мере, одно измерение производят в определенном подинтервале с учетом уровня дискриминации Udm, при котором абсолютное значение наклона зависимости Nd или nd от Ud принимает минимальное значение. Результаты измерений в этом подинтервале аппроксимируют обратной экспоненциальной функцией f (Ud) в зависимости от квадрата аргумента. Затем определяют значение среднего заряда Q. Способ обеспечивает точность измерения значения Q в камерах деления 3-9% в зависимости от количества измерений в подинтервале при надежности 95%. 1 з.п.ф-лы, 5 табл., 6 ил.


Дирекция сайта "Промышленная Сибирь"
Россия, г.Омск, ул.Учебная, 199-Б, к.408А
Сайт открыт 01.11.2000
© 2000-2018 Промышленная Сибирь
Разработка дизайна сайта:
Дизайн-студия "RayStudio"