RU 2237909 C1, 10.10.2004. RU 2129718 C1, 27.04.1999. RU 2334250 С1, 20.09.2008. RU 2274875 С2, 20.04.2006. US 2007296953 A1, 27.12.2007. US 5402131 A, 28.03.1995. US 4217583 А, 12.08.1980.
Имя заявителя:
Открытое акционерное общество "Научно-производственный комплекс "Научно-исследовательский институт дальней радиосвязи" (ОАО НПК НИИДАР) (RU)
Изобретатели:
Каптюг Алексей Александрович (RU) Князев Александр Павлович (RU)
Патентообладатели:
Открытое акционерное общество "Научно-производственный комплекс "Научно-исследовательский институт дальней радиосвязи" (ОАО НПК НИИДАР) (RU)
Реферат
Изобретение относится к способам обзора контролируемого пространства в многоцелевых радиолокационных системах с фазированными антенными решетками (ФАР). Достигаемым техническим результатом изобретения является обеспечение фокусировки зондирующих сигналов (ЗС) в заданной малой области и снижение ошибки разрешения в пространственной и частотных областях. Сущность изобретения состоит в формировании ЗС в каждой угловой позиции луча диаграммы направленности (ДН) из последовательно излучаемых пар одиночных и пачечных сигналов, последовательно излучаемых излучателями ФАР, причем в режиме начального просмотра контролируемого пространства стартовая позиция луча пары ЗС приходит на первую верхнюю позицию луча ДН ФАР, а последующие пары ЗС сканируют область контролируемого пространства последовательно с определенными задержками в горизонтальных рядах позиций луча ДН ФАР с вертикальным пошаговым переходом и при обнаружении отражающей неоднородности среды в какой-либо из угловых позиций вычисляют скорость перемещения и координаты указанной неоднородности, а в режиме сопровождения указанной неоднородности, как объекта локации, стартовая пара ЗС приходит на ту же угловую позицию ДН, что и при начальном просмотре, но наборы задержек излучения ЗС формируются в зависимости от координат неоднородностей среды, которые обнаружены в соответствующих угловых позициях наблюдения при очередном и предшествующих просмотрах контролируемого пространства.
Поиск патентов
Получить полное описание патента