На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ИДЕНТИФИКАЦИИ ОДНОРОДНОЙ ПОВЕРХНОСТИ ПО ХАРАКТЕРИСТИКАМ ОТРАЖЕННОГО СВЕТОЛОКАЦИОННОГО СИГНАЛА | |
Номер публикации патента: 2025744 | |
Редакция МПК: | 5 | Основные коды МПК: | G01S017/00 | Аналоги изобретения: | Козлов Ю.М. Адаптация и обучение в робототехнике. М.: Недра, 1990, с.217. |
Имя заявителя: | Ипатов О.С. | Изобретатели: | Ипатов О.С. | Патентообладатели: | Научно-производственное товарищество с ограниченной ответственностью "Техносенсор" |
Реферат | |
Изобретение относится к измерительной технике, в частности к методам и средствам оптической локации, и предназначено для использования в светолокационных системах технического зрения. Целью изобретения является повышение достоверности идентификации однородной поверхности за счет сравнения размеров граней ее макроструктуры с рамерами светового пятна в точке зондирования. Способ идентификации однородной поверхности по характеристикам отраженного светолокационного сигнала заключается в том, что не менее, чем в трех точках поверхности, расположенных не на одной прямой, измеряют координаты светового луча, сдвиг а также амплитуду отраженного сигнала, расстояния между точками выбирают из условия пространственного непересечения световых потоков, а совокупность измерений производят два раза в одинаковых условиях, но при различных площадях светового пятна на поверхности, в каждой точке измерений вычисляют величину, равную произведению амплитуды отраженного сигнала и квадрата расстояния до точки измерений, определяют отношение дисперсий вычисленной величины каждой совокупности измерений и в зависимости от того, близко ли это отношение к единице, S1/S2 или занимает промежуточное положение между единицей и S1/S2 принимают решение о виде идентифицируемой поверхности, где S1/S2 площадь засвеченных излученным сигналом областей этой поверхности при первой и второй совокупности измерений соответственно. 5 ил.
|