На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ МАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ ЭЛЕКТРОННО - ОПТИЧЕСКИМ МЕТОДОМ | |
Номер публикации патента: 2292053 | |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | G01R033/02 | Аналоги изобретения: | SU 437989 A1, 30.07.1974. JP 2001-066287 A, 16.03.2001. SU 1810852 A1, 23.04.1993. RU 2052829 C1, 20.01.1996. JP 55-122141 A, 19.09.1980. SU 1693570 A1, 23.11.1991. SU 299813 A, 26.03.1971. US 4803430 A, 07.02.1989. US 6744249 A, 06.03.2003. JP 55-163464 А, 19.12.1980. |
Имя заявителя: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Тамбовский государственный технический университет" (ГОУ ВПО ТГТУ) (RU) | Изобретатели: | Калинин Вячеслав Федорович (RU) Иванов Владимир Михайлович (RU) Печагин Евгений Александрович (RU) Уваров Александр Николаевич (RU) Лимонов Дмитрий Николаевич (RU) | Патентообладатели: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Тамбовский государственный технический университет" (ГОУ ВПО ТГТУ) (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к технике измерений магнитных полей и может быть использовано в дефектоскопии проводников и магнитопроводов. Способ измерения напряженности магнитного поля включает использование электронно-оптического муарового эффекта, возникающего при наложении искаженного магнитным полем теневого изображения сетки на экране электронографа на неискаженное изображение сетки.
|