|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА НЕЛИНЕЙНЫХ ИСКАЖЕНИЙ |  |
Номер публикации патента: 2065170 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01R023/16 | | Аналоги изобретения: | 1. Мирский Г.Я. Аппаратурное определение характеристик случайных процессов.- М.: Энергия, 1972, с. 237 - 244. 2. Авторское свидетельство СССР N 729524, кл. G 01 R 23/20, 1980. 3. Авторское свидетельство СССР N 879493, кл. G 01 R 23/16, 1982. 4. Авторское свидетельство СССР N 779897, кл. G 01 R 23/16, 1980. 5. Авторское свидетельство СССР N 1113751, кл. G 01 R 23/16, 1984. 6. Измерения в электронике/Справочник.- М.: Энергоатом, 1987, с. 382 - 383. 7. Патент СССР N 1825190, кл. G 06 G 7/17, 1990. |
| Имя заявителя: | Келехсаев Борис Георгиевич | | Изобретатели: | Келехсаев Борис Георгиевич | | Патентообладатели: | Келехсаев Борис Георгиевич |
Реферат | |
Применение: Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения коэффициента нелинейных искажений сигнала. Цель: повышение точности измерений. Сущность изобретения: производят сравнение исследуемого сигнала с опорным синусоидальным сигналом, при этом в определенные моменты времени (wt) определяют текущие величины модулей отношений мгновенных значений (wt) исследуемого и опорного синусоидального сигналов, определяют их усредненное значение Кc, определяют значения корня квадратного из разности квадратов двух величин K(wt) и Kc, которые умножают на значения опорного синусоидального сигнала, определяют среднеквадратическое значение полученного произведения, которое делят на среднеквадратическое значение исследуемого сигнала. Положительный эффект: способ не требует применение фильтров для выделения или подавления основной гармоники и имеет преимущества на инфранизких частотах при анализе сигналов, изменяющихся в большом динамическом диапазоне, когда требуется высокое быстродействие и точность измерений. 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента