На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»

Вернуться к списку

СПОСОБ ИМПЕДАНСМЕТРИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ МАССЫ КРИСТАЛЛОВ В САХАРСОДЕРЖАЩИХ КРИСТАЛЛИЗАТАХ

Номер публикации патента: 2075241

Вид документа:  C1  Страна публикации:  RU  Рег. номер заявки:  94002902		Получить полное описание патента

Реферат

Способ импедансметрического контроля массы кристаллов в сахаросодержащих кристаллизатах, включающий высокочастотное определение величины общего тангенса угла диэлектрических потерь кристаллизата и определение массы кристаллов расчетным путем, отличающийся тем, что дополнительно одновременно с определением величины общего тангенса угла диэлектрических потерь кристаллизата измеряют величину модуля электрического импеданса кристаллизата, а определение массы M_кр кристаллов проводят с использованием зависимости

где - модуль электрического импеданса;
tgδ - общий тангенс угла диэлектрических потерь кристаллизата;
A и B - предварительно экспериментально определенные коэффициенты.

Вернуться к списку