US 7012425 B2, 14.03.2006. JP 2006194661 A, 27.07.2006. JP 2002327889 A, 15.11.2002. US 5659248 A, 19.08.1997. US 5418457 A, 23.05.1995. US 5047719 A, 10.09.1991. EP 0228177 A2, 08.07.1987. JP 57108657 A, 06.07.1982. RU 2071052 C1, 27.12.1996. SU 1359731 A1, 15.12.1987. SU 1132217 A, 30.12.1984. SU 987505 A, 07.01.1983.
Имя заявителя:
СНЕКМА (FR)
Изобретатели:
ШЕНЕ Сандра Кароль Анжель (FR)
Патентообладатели:
СНЕКМА (FR)
Приоритетные данные:
30.05.2007 FR 0755348
Реферат
Изобретение относится к определению реперов интересующих точек в зоне (10, 20) поверхности детали (100), включающему в себя установление плотного контакта в упомянутой зоне поверхностного контрольного образца (11, 21), представляющим собой тонкий и достаточно эластичный слой, чтобы соответствовать форме зоны; при этом тонкий слой содержит трассы электропроводящего материала; при этом при проходе зонда (30) с токами Фуко по трассе подается значащий и характерный сигнал трассы; при этом данный характерный сигнал соответствует реперу интересующей точки, определяемым таким образом в упомянутой зоне. Согласно изобретению предложены: поверхностный контрольный образец, способ определения реперов интересующих точек в зоне поверхности детали, способ проведения автоматического контрольного исследования идентичных металлических деталей и применение поверхностного контрольного образца, применение способа определения реперов интересующих точек в зоне поверхности детали, применение упомянутого выше способа автоматического контрольного исследования при неразрушающем контроле электропроводящих деталей. Настоящее изобретение позволяет, в частности, оптимизировать траекторию и угол наклона зонда с токами Фуко, осуществляющего сканирование зоны контролируемой детали. 6 н. и 13 з.п. ф-лы, 3 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента