RU 2384839 C1, 20.03.2010. RU 2351924 C1, 10.04.2009. RU 2283488 C2, 10.09.2006. SU 1758413 A1, 30.08.1990. SU 1573415 A1, 23.06.1990. SU 1562680 A1, 07.05.1990. SU 1383195 A1, 23.03.1988. ЕР 1701157 A1, 13.09.2006.
Имя заявителя:
Закрытое Акционерное Общество "КОНСТАНТА" (RU)
Изобретатели:
Сясько Владимир Александрович (RU) Ивкин Антон Евгеньевич (RU)
Патентообладатели:
Закрытое Акционерное Общество "КОНСТАНТА" (RU)
Реферат
Способ вихретокового измерения толщины тонких неферромагнитных металлических покрытий заключается в том, что для зондирований подают гармонический сигнал выбранной частоты на обмотку возбуждения, установленную на средине ферритового сердечника, снимают сигналы с одинаковых измерительной и компенсационной обмоток, установленных на противоположных концах ферритового сердечника, находят их разностный сигнал и измеряют его фазу , при зондированиях объекта измерений прижимают к нему конец ферритового стержня с измерительной обмоткой, согласно изобретению выбирают оптимальную частоту обмотки возбуждения из соотношения: fопт=(0,30,7)/( µ0п Т2пmax), где µ0 - магнитная постоянная; п - электропроводность покрытия; Тпmax - максимальная толщина покрытия, перед началом измерений балансируют измерительную и компенсационную обмотки, добиваясь нулевого разностного сигнала при отсутствии объекта измерений, устанавливают прокладку из неферромагнитного металла, близкого по электропроводности к материалу покрытия, между ферритовым стержнем и объектом измерений, толщину прокладки выбирают так, чтобы при ориентировочно известных параметрах исследуемого объекта и ферритового стержня с обмотками обеспечить максимальную расчетную чувствительность амплитудно-фазовых характеристик разностного сигнала от толщины покрытия объекта, при зондированиях измеряют дополнительно амплитуду А разностного сигнала, градуируют измеритель, для чего зондируют мерные объекты, имеющие характеристики, близкие к исследуемому объекту, с несколькими известными толщинами Тп покрытия и при нескольких известных значениях зазоров h между ферритовым стержнем с прокладкой и поверхностью мерных объектов, сохраняют зависимость амплитуд и фаз разностных сигналов от толщин покрытия и зазоров А, (Тп h), зондируют исследуемый объект, вычисляют толщину покрытия Тп и зазор h между ферритовым стержнем с прокладкой и поверхностью покрытия объекта по измеренным значениям амплитуды А и фазы разностного сигнала, используя зависимость А, (Тп h). Обеспечивается возможность измерения толщины тонких неферромагнитных металлических покрытий, нанесенных на неферромагнитные основания, в том числе в условиях, когда электропроводность покрытия меньше электропроводности основания, с возможностью измерения объектов с шероховатыми покрытиями и (или) криволинейными поверхностями, а также имеющих дополнительное неэлектропроводное покрытие. 6 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента