

	Главная Патентный отдел Технологии Справочник ГРНТИ Прием Наши координаты Обратная связь

Поиск патентов

Оформить заказ и задать интересующие Вас вопросы Вы можете напрямую c 6-00 до 14-30 по московскому времени кроме сб, вс. whatsapp 8-950-950-9888

Патентный отдел

На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»

Вернуться к списку

СПОСОБ ОЦЕНКИ ГЛУБИНЫ ЗАЛЕГАНИЯ ДЕФЕКТА

Номер публикации патента: 2438120

Вид документа:	C1
Страна публикации:	RU
Рег. номер заявки:	2010122996/28

Получить полное описание патента

Редакция МПК:	6
Основные коды МПК:	G01N023/18
Аналоги изобретения:	RU 2243541 C2, 27.12.2004. RU 2240538 C2, 20.11.2004. SU 1536215 A1, 15.01.1990. SU 1526381 A1, 19.06.1995. JP 62282251 A, 08.12.1987. JP 8203691 A, 09.08.1996. JP 61155843, 15.07.1986. US 6157699 A, 05.12.2000.

Имя заявителя:	Открытое акционерное общество "Ижорские заводы" (RU)
Изобретатели:	Зуев Вячеслав Михайлович (RU) Табакман Рудольф Леонидович (RU) Капустин Виктор Иванович (RU) Шипилов Александр Валентинович (RU)
Патентообладатели:	Открытое акционерное общество "Ижорские заводы" (RU)

Реферат

Использование: для оценки глубины залегания дефекта. Сущность: заключается в том, что выполняют первый и второй снимки без изменения направления просвечивания при различном расстоянии от источника излучения до контролируемого изделия, после чего замеряют размеры изображений дефекта на обоих снимках и на основе проведенных замеров и известной геометрии просвечивания проводят расчетную оценку глубины залегания дефекта по соответствующему математическому выражению. Технический результат: повышение точности оценки глубины залегания дефекта. 1 ил.

Вернуться к списку

Дирекция сайта "Промышленная Сибирь"
Россия, г.Омск, ул.Учебная, 199-Б, к.408А
Сайт открыт 01.11.2000
© 2000-2018 Промышленная Сибирь

Разработка дизайна сайта:
Дизайн-студия "RayStudio"