WO 2004043740 A2, 27.05.2004. US 5600700 A, 04.02.1997. JP 2004251669 А, 09.09.2004. WO 0033060 A2, 08.06.2000. RU 2256169 С1, 10.07.2005. RU 2137114 C1, 10.09.1999. RU 2253861 C2, 10.06.2005. US 5068883 A, 26.11.1991.
Имя заявителя:
Эмерикэн Сайэнс энд Энджиниэринг, Инк. (US)
Изобретатели:
БОКУС Уильям Дж. (US) КОЛИРЭЙМ Джозеф (US) КЭЙСОН Уильям Рэндел (US) РОТШИЛЬД Питер (US) СЭПП Уильям Вейд Дж. (US) ШУБЕРТ Джефри (US) ШЮЛЛЕР Ричард (US)
Патентообладатели:
Эмерикэн Сайэнс энд Энджиниэринг, Инк. (US)
Приоритетные данные:
24.10.2005 US 60/729.528 24.10.2005 US 60/729.548 09.12.2005 US 60/748.909
Реферат
Использование: для досмотра объекта посредством проникающего излучения. Сущность: заключается в том, что выбирают объект-цель, освещают выбранный объект-цель сведенным в параллельный пучок лучом проникающего излучения, который подают от источника, регистрируют излучение обратного рассеяния от выбранного объекта-цели с использованием детектора обратного рассеяния при его расположении относительно объекта-цели с охватом поля наблюдения, видимого из выбранного объекта-цели, по меньшей мере, в 5 раз больше, чем поле наблюдения, видимое из выбранного объекта-цели, которое получают от источника, получают предполагаемые опорные значения на основании связи с частями выбранного объекта-цели, производят сравнение показателей излучения обратного рассеяния с предполагаемыми опорными значениями и на основании сравнения определяют описательную категорию, которая характеризует выбранный объект-цель. Технический результат: обеспечение лучшего качества изображения, большего поля наблюдения для данного качества изображения, меньшего времени сканирования для создания данного качества изображения и уменьшение дозы, получаемой целью, для данного качества изображения. 3 н. и 15 з.п. ф-лы, 24 ил., 1 табл.
Поиск патентов
Получить полное описание патента