|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ДЕФЕКТО - СТРУКТУРО - РЕНТГЕНОГРАФИИ |  |
Номер публикации патента: 2271533 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N023/18 | | Аналоги изобретения: | SU 574885 A1, 17.06.1957. SU 1362578 A1, 30.12.1987. SU 414519 A1, 05.11.1974. SU 1318870 A1, 23.06.1987. JP 08203691 A, 09.08.1996. US 6229872 B1, 08.05.2001. |
| Имя заявителя: | Открытое акционерное общество "Ижорские заводы" (RU) | | Изобретатели: | Зуев Вячеслав Михайлович (RU) | | Патентообладатели: | Открытое акционерное общество "Ижорские заводы" (RU) |
Реферат | |
Использование: для контроля качества изделий. Сущность: заключается в том, что проводят просвечивание проникающим излучением на радиографическую пленку контролируемого изделия и образца-имитатора с установленными на них эталонами с канавками различной глубины, при этом проводят при одинаковых для изделия и образца параметрах излучения первоначальное просвечивание нефильтрованным рентгеновским излучением и повторное просвечивание фильтрованным рентгеновским излучением или гамма-излучением без изме
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента