|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОЦЕНКИ РАЗМЕРА ДЕФЕКТА В НАПРАВЛЕНИИ ПРОСВЕЧИВАНИЯ |  |
Номер публикации патента: 2243541 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N023/18 | | Аналоги изобретения: | SU 699915 A, 30.12.1981. JP 08-203691 C, 10.12.2002. US 6229872 B1, 08.05.2001. РУМЯНЦЕВ С.В., ГРИГОРОВИЧ Ю.А. КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА МЕТАЛЛОВ ГАММА-ЛУЧАМИ. - М.: ГОСУДАРСТВЕННОЕ НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКОЕ ИЗДАТЕЛЬСТВО ЛИТЕРАТУРЫ ПО ЧЕРНОЙ И ЦВЕТНОЙ МЕТАЛЛУРГИИ, 1954, с.133-134. РЕТИ П. НЕРАЗРУШАЮЩИЕ МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ. - М.: МАШИНОСТРОЕНИЕ, 1972, с.15-17. |
| Имя заявителя: | Открытое акционерное общество "Ижорские заводы" (RU) | | Изобретатели: | Зуев В.М. (RU) | | Патентообладатели: | Открытое акционерное общество "Ижорские заводы" (RU) |
Реферат | |
Использование: для радиографического контроля сварных соединений. Сущность заключается в том, что для оценки размера дефекта в направлении просвечивания на контролируемое сварное соединение устанавливают эталон-имитатор с канавками различной ширины, но одинаковой глубины, равной предельно допустимой глубине реального дефекта, причем набор эталонных канавок должен включать в себя канавку шириной, равной или близкой, но не меньшей суммарной величины геометрической и собственной нерезкости применяем
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента