|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ МЕТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕПЛИКИ ДЛЯ АНАЛИЗА НАНОМЕТРИЧЕСКИХ КАНАЛОВ В ТРЕКОВЫХ МЕМБРАНАХ |  |
Номер публикации патента: 2115915 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01N023/225 | | Аналоги изобретения: | S. Vetter, R.Spohr. Applecation. of ion traek membranes for preparation of metallic microstrures. Nucllear clustruments and Methods in Physics Rescarch B 79 (1993), 691 - 694. |
| Имя заявителя: | Объединенный институт ядерных исследований | | Изобретатели: | Дмитриев С.Н.
Реутов В.Ф.
Сохацкий А.С. | | Патентообладатели: | Объединенный институт ядерных исследований |
Реферат | |
Изобретение относится к области исследований и анализа материалов путем определения их физических свойств, а именно для исследования параметров каналов нанометрических размеров в трековых мембранах, и может быть использовано при изготовлении объектов из трековых мембран для анализа с помощью просвечивающей электронной микроскопии. Сущность изобретения: создают металлический контактный слой на поверхности трековой мембраны, а далее производят электрохимическое осаждение в каналах трековой мембраны металлического осадка, затем гальванически формируют массивную подложку и осуществляют химическое растворение трековой мембраны. Электрохимическое осаждение в каналах трековой мембраны металлического осадка производят непосредственно на сферически изогнутую поверхность металлической фольги-подложки, через прижатую к ней трековую мембрану. 2 з.п. ф-лы, 1 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента