Промышленная Сибирь Ярмарка Сибири Промышленность СФО Электронные торги НОУ-ХАУ Электронные магазины Карта сайта
 
Ника
Ника
 

Поиск патентов

Как искать?
Реферат
Название
Публикация
Регистрационный номер
Имя заявителя
Имя изобретателя
Имя патентообладателя

    





Оформить заказ и задать интересующие Вас вопросы Вы можете напрямую c 6-00 до 14-30 по московскому времени кроме сб, вс. whatsapp 8-950-950-9888

На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»


СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ПОЛИПОЛЯРИЗАЦИОННОГО ИССЛЕДОВАНИЯ МИНЕРАЛОВ И ОРГАНИЧЕСКИХ СТРУКТУР С РАЗЛИЧНЫМИ КОЭФФИЦИЕНТАМИ ПРОПУСКАНИЯ

Номер публикации патента: 2466379

Вид документа: C1 
Страна публикации: RU 
Рег. номер заявки: 2011113824/28 
  Сделать заказПолучить полное описание патента

Редакция МПК: 
Основные коды МПК: G01N021/21    
Аналоги изобретения: RU 2402753 C1, 27.10.2010. RU 78945 U1, 10.12.2008. SU 1806343 A3, 30.03.1993. JP 2004294293 A, 21.10.2004. WO 2007058198 A1, 24.05.2007. JP 4058120 А, 25.02.1992. 

Имя заявителя: Учреждение Российской академии наук "Институт истории материальной культуры" (RU) 
Изобретатели: Носов Евгений Николаевич (RU)
Медникова Елена Юрьевна (RU)
Куликов Вадим Евгеньевич (RU)
Миняев Сергей Степанович (RU) 
Патентообладатели: Учреждение Российской академии наук "Институт истории материальной культуры" (RU) 

Реферат


Изобретение относится к области оптико-физических исследований состава естественных и искусственных минералов, а также органических структур с различными коэффициентами пропускания. Способ заключается в том, что осуществляют подготовку исследуемого объекта до тех пор, пока его толщина вдоль оптической оси становится достаточной для того, чтобы его коэффициент пропускания был больше нуля, а в оптическую систему включают оптически связанные между собой анализатор и поляризатор, между которыми размещают исследуемый объект. Воздействуют на объект излучением от первичного источника, при этом поворотом анализатора осуществляют снижение интенсивности паразитного излучения первичного источника, миновавшего исследуемый объект, после чего наблюдают полученную оптимальную картину исследуемого объекта. Сравнивают полученное таким образом изображение исследуемого объекта с эталонным изображением и делают вывод о составе и свойствах исследуемого объекта и их отличиях. Изобретение позволяет визуально и с высокой степенью достоверности определить структурный состав исследуемого объекта для целей его идентификации. 3 ил.

Дирекция сайта "Промышленная Сибирь"
Россия, г.Омск, ул.Учебная, 199-Б, к.408А
Сайт открыт 01.11.2000
© 2000-2018 Промышленная Сибирь
Разработка дизайна сайта:
Дизайн-студия "RayStudio"