WALTHER H.G. et al. Photothermal Steel Hardness Measurements - Results and Perspectives. Analytical sciences, 2001, v.17 Special Issue, p.165-168. SU 1375994 A1, 23.02.1988. RU 2303253 C1, 20.07.2007. LIU Y. et al. Transverse depth-profilometric hardness phototermal phase imaging of heat treated steels. Appl. Phys.2003, v.94, 9, p.5543-5548. JP 2007101326 A, 19.04.2007.
Имя заявителя:
Государственное научное учреждение "Институт физики имени Б.И. Степанова Национальной академии наук Беларуси" (BY)
Изобретатели:
Казак Николай Станиславович (BY) Белый Владимир Николаевич (BY) Хило Николай Анатольевич (BY) Ропот Петр Иосифович (BY) Мащенко Александр Георгиевич (BY)
Патентообладатели:
Государственное научное учреждение "Институт физики имени Б.И. Степанова Национальной академии наук Беларуси" (BY)
Реферат
Изобретение относится к области машиностроения и может найти применение для неразрушающего оптического контроля при дистанционном определении механической твердости стальных изделий, измерении профиля твердости по глубине при поверхностной обработке, локальных измерениях, включая труднодоступные места. Способ заключается в том, что изделие из стали подвергают локальному воздействию мощным лазерным излучением, в результате чего происходит оптическое возбуждение нестационарного теплового поля. Пространственно-временная модуляция тепловых волн с поверхности металла переносится в оптическую область с применением считывающего пучка лазера малой мощности видимого диапазона. С помощью CCD камеры регистрируется динамика спекл-изображений поверхности образца. Разбивая спекл-изображения на ряд фрагментарных участков, рассчитывают значения функции F(T,r)=1-cor(T,r), где cori(T1,r) - корреляционная функция. Для выделенного фрагмента по полученным значениям строят график функции F(T,r) и по калибровочным кривым определяют механическую твердость этого участка стального изделия. Техническим результатом является уменьшение погрешности измерений за счет исключения негативного влияния «паразитных» инфракрасных источников излучения. 13 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента