|
В данном разделе представлены Рефераты российских патентных документов.
Здесь Вы можете провести патентный анализ, а также приобрести полный комплект документов по патенту. Стоимость 1 патента — 150 руб. (НДС не облагается).
Поиск информации осуществляется посредством определения соответствующих критериев поиска в форме "Поиск патентов"
Патенты, представленные в данном разделе, классифицированы с использованием классификатора МПК (Международный патентный классификатор). Подробную информацию о классификаторе смотрите здесь.
Вы можете двигаться по "дереву" классификатора, а также осуществлять поиск по классификатору, вводя условие поиска в форму "Поиск в МПК".
Капустинская Наталья - менеджер, тел. (3812) 31-17-14 E-mail: adm311714@yandex.ru
| МПК » G » G01 » G01N » G01N001/00 |
|
Получение образцов; подготовка образцов для исследования (манипулирование материалами при автоматическом анализе 35/00)
G01N001/28: .подготовка образцов для исследования (крепление образцов на предметном стекле микроскопа G 02B 21/34; средства для крепления в электронных микроскопах исследуемых объектов или материалов H 01J 37/20)
|
|
Поиск патентов