На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»

Вернуться к списку

СПОСОБ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОГО КОНТРОЛЯ ОПТИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ МИКРОСКОПА

Номер публикации патента: 2077177

Вид документа:  C1  Страна публикации:  RU  Рег. номер заявки:  93055760		Получить полное описание патента

Реферат

Способ интерференционного контроля качества оптической системы микроскопа, включающий освещение диффузного рассеивателя излучением с плоской когерентной волной, пропускание диффузно рассеянного излучения через контролируемый объект с известной величиной f фокусного расстояния, запись на светочувствительной среде голограммы с помощью плоской опорной волны, введение взаимных фазовых изменений в световые волны, повторную запись голограммы и регистрацию интерферограммы контроля при проведении пространственной фильтрации в плоскости голограммы, отличающийся тем, что выбирают расстояние от диффузного рассеивателя до главной плоскости объектива l = f₁(f₁+&Dgr;)/&Dgr;, где f₁ - фокусное расстояние объектива, &Dgr; - оптическая длина тубуса микроскопа, а расстояние от главной плоскости окуляра до светочувствительной среды L= f₂(f₂+&Dgr;)/&Dgr;, где f₂ - фокусное расстояние окуляра, осуществление взаимных изменений в световых волнах проводят путем смещения светочувствительной среды в плоскости ее размещения и изменения в направлении смещения угла наклона плоской волны освещения диффузного рассеивателя на величину α = arcsin a/f, где a - величина смещения светочувствительной среды, f= f₁·f₂/&Dgr;.п

Вернуться к списку