Изобретение относится к способам и устройствам для анализа флюида с использованием скважинной архитектуры спектрометра в оценке и испытании подземной формации для целей разведки и разработки углеводорододобывающих скважин, таких как нефтяные и газовые скважины. Система анализа флюида, сконфигурированная для работы в скважине, проходящей формацию, содержит, по меньшей мере, один источник света, генерирующий входящий свет. Также система содержит ячейку для пробы, функционально подсоединенную к упомянутому, по меньшей мере, одному источнику света, принимающую в себя пробу флюида, которая дополнительно содержит, по меньшей мере, одно входное окно, позволяющее упомянутому входному свету поступать в упомянутую ячейку для пробы и через пробу флюида для получения выходного света и, по меньшей мере одно выходное окно, позволяющее упомянутому выходному свету выходить из упомянутой ячейки для пробы. Кроме того, система содержит, по меньшей мере, первый спектрометр, функционально подсоединенный к выходу ячейки для пробы и сконфигурированный для измерения упомянутого выходного света и генерации множества измерительных сигналов. Система также содержит устройство для анализа, функционально подсоединенное к выходам упомянутого первого спектрометра и сконфигурированное для приема упомянутого множества измерительных сигналов и определения свойств пробы флюида. Также система содержит, по меньшей мере, второй спектрометр, функционально подсоединенный к упомянутому, по меньшей мере, одному источнику света и сконфигурированный для измерения упомянутого входного света и генерации множества эталонных сигналов. Кроме того, система содержит калибровочное устройство, функционально подсоединенное к выходам упомянутого второго спектрометра и сконфигурированное для приема упомянутого множества эталонных сигналов и калибровки упомянутого первого спектрометра и другой электроники. Техническим результатом изобретения является повышение точности, а также одновременное обеспечение подробного спектрального анализа в интересующем диапазоне. 2 н. и 12 з.п. ф-лы, 7 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента