|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВРЕМЕННЫХ ВАРИАЦИЙ ПОТЕМНЕНИЯ К ЛИМБУ СОЛНЦА |  |
Номер публикации патента: 2124186 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01J003/26 | | Аналоги изобретения: | Janssens T.J. A non imaging approach to solar oblateness measurements. Solar Physics, 1972, 25, p.237-241. Yerle R. Solar oscillations and limb darkening fluctuations, Astrophys., 1981, 100, L 23-L25. Neckel H., Labs D. Asymmetry and variations of solar limb darkening along the diameter defined by durnal motion in April 1981. Solar Phys., 1987, 110, p.139-170. А.А.Шишловский. Прикладная физическая оптика.-М.: ГИФМЛ, 1961, с.191-203. SU, 445851 A, 30.05.75. WO, 8200884 A1, 18.03.82. |
| Имя заявителя: | Институт солнечно-земной физики СО РАН | | Изобретатели: | Кобанов Н.И.
Григорьев В.М. | | Патентообладатели: | Институт солнечно-земной физики СО РАН |
Реферат | |
Изобретение относится к области астрофизических измерений и может быть использовано для мониторинга одного из важнейших параметров солнечного изображения, а именно функции потемнения к лимбу. Последняя служит источником информации о вертикальном градиенте плотности и температуры солнечной плазмы и лежит в основе всех модельных представлений в физике Солнца. Повышение оперативности измерения вариаций интегральной (по всему видимому диску) функции потемнения к лимбу Солнца основано на использовании особенности интерферометра Фабри-Перо (ФПИ), заключающейся в том, что смещение максимума полосы пропускания ФПИ связано с углом падения световых лучей квадратичной зависимостью. Результирующий спектральный профиль излучения, пропускаемого ФПИ от всего диска Солнца, может быть представлен суммой профилей ФПИ, сдвинутых в фиолетовую сторону с амплитудами максимумов, соответствующих функции потемнения. При этом различные части солнечного диска участвуют в образовании сигнала с равным весом и требуемая характеристика мажет быть измерена всего лишь за один скан спектрального профиля ,что и обеспечивает повышение оперативности и достоверности измерений. 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента