На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»

Вернуться к списку

СПОСОБ КАЛИБРОВКИ ИЗМЕРЕНИЙ НАПРЯЖЕННОСТИ МАГНИТНОГО ПОЛЯ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ

Номер публикации патента: 2112936

Вид документа:  C1  Страна публикации:  RU  Рег. номер заявки:  96103763		Получить полное описание патента

Реферат

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для калибровки магнитографов и устройств на базе спектрографов для измерения магнитных полей по эффекту Зеемана. Сущность изобретения: для калибровки фотометрических измерений расщепления спектральных линий в поперечном магнитном поле предлагается искусственно расщеплять в спектрографе на заданную величину спектральную линию на три линейно поляризованных компонента, два боковых из которых ортогонально поляризованы к центральному. Калибровка проводится на том же приборе и с тем же источником света, для которого ведутся измерения магнитных полей. Расщепление на три компонента осуществляется следующим образом: первая двупреломляющая лучеразводящая пластинка разделяет входящий в спектрограф свет на два пучка о-и е - лучи. Затем о-луч расщепляется на заданную величину пластинкой Саварра на два луча, образующие в фокальной плоскости спектрографа боковые σ-компоненты расщепления с поляризацией о - луча. Наконец, вторая двупреломляющая пластина сводит е - луч в середину между двумя боковыми σ-компонентами, который образует центральный π - компонент расщепления. 1 ил.

Вернуться к списку