|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЧНОСТИ ИЗГОТОВЛЕНИЯ УГЛОИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СТРУКТУР, НАНОСИМЫХ НА ПРОЗРАЧНЫЙ НОСИТЕЛЬ |  |
Номер публикации патента: 2242715 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01C001/00 | | Аналоги изобретения: | SU 556314 A, 30.04.1977. SU 1411583 A1, 23.07.1988. SU 591687 A1, 05.02.1978. US 3732015 A, 08.05.1973. |
| Имя заявителя: | Конструкторско-технологический институт научного приборостроения (статус государственного учреждения) (RU) | | Изобретатели: | Кирьянов В.П. (RU)
Кирьянов А.В. (RU) | | Патентообладатели: | Конструкторско-технологический институт научного приборостроения (статус государственного учреждения) (RU) |
Реферат | |
Способ измерения точности изготовления углоизмерительных структур, наносимых на прозрачный носитель, заключается в размещении на едином вращающемся валу двух прозрачных носителей с углоизмерительными структурами, из которых один - контролируемый, а другой - эталонный, формировании теневых изображений элементов топологии обоих структур, регистрирации с помощью фотоэлектрических преобразователей теневых изображений элементов структур и сравнении взаимного положения зарегистрированных сигналов, по и
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента