|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОПЕРАТИВНОГО КОНТРОЛЯ ШЕРОХОВАТОСТИ СВЕРХГЛАДКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ БОЛЬШИХ РАЗМЕРОВ МЕТОДОМ РЕНТГЕНОВСКОГО СКАНИРОВАНИЯ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ |  |
Номер публикации патента: 2128820 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01B015/00 G01B015/08 G01B021/30 | | Аналоги изобретения: | GB, 14174191 A, 18.05.77. EP, 0794406 A1, 06.03.97. SU, 672480 A, 09.07.79. |
| Имя заявителя: | Физико-технологический институт РАН | | Изобретатели: | Протопопов В.В.
Валиев К.А.
Имамов Р.М.
Шишков В.А. | | Патентообладатели: | Физико-технологический институт РАН |
Реферат | |
Изобретение относится к области контроля сверхгладких поверхностей с манометровым уровнем шероховатости. Способ контроля шероховатости включает направление на исследуемую поверхность коллимированного пучка лучей рентгеновского излучения под углом скольжения = c-(c+0,4o), где c - критический угол, сканирование пучком рентгеновского излучения по исследуемой поверхности, измерение интенсивности отраженного излучения при помощи линейки фотодиодов и определение величины шероховатости по измеренным па
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента