US 5748311 A, 05.05.1998. JP 2007333662 A, 27.12.2007. SU 1782314 A3, 15.12.1992. RU 2006140854 A1, 10.07.2008.
Имя заявителя:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Самарский государственный технический университет (RU)
Изобретатели:
Абрамов Алексей Дмитриевич (RU) Никонов Александр Иванович (RU) Носов Николай Васильевич (RU)
Патентообладатели:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Самарский государственный технический университет (RU)
Реферат
Способ основан на преобразовании исходного полутонового изображения исследуемой поверхности в бинарное и вычислении двумерной автокорреляционной функции и ее среднего значения амплитуды переменной составляющей. Для заданной вероятности определяют доверительный интервал, в который попадает найденное значение средней амплитуды, и по нему определяют минимальное и максимальное ее значения. По имеющейся зависимости среднего арифметического отклонения профиля образцовых поверхностей от средней амплитуды переменной составляющей автокорреляционных функций для этих поверхностей определяют среднее значение арифметического отклонения профиля исследуемой поверхности, а также минимальное и максимальное его значения для заданной вероятности их определения. Технический результат - повышение быстродействия и независимость получаемых результатов от интенсивности, требований к стабильности, когерентности источника падающего светового потока, угла его падения на исследуемую поверхность и перпендикулярности оптической оси объектива исследуемой поверхности в широких диапазонах их изменения. 12 ил., 1 табл.
Поиск патентов
Получить полное описание патента