|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВЫСОКОТОЧНОГО БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ РАССТОЯНИЙ ПОВЕРХНОСТЕЙ |  |
Номер публикации патента: 2148790 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01B011/14 G01B011/30 | | Аналоги изобретения: | DE 2945251 A1, 14.05.81. DE 3435033 A1, 03.04.86. US 4726685 A, 23.02.88. Комраков Б.Б. и др. Измерение параметров оптических покрытий. - М.: Машиностроение, 1986, с.39. |
| Имя заявителя: | БЕТРИБСФОРШУНГСИНСТИТУТ ФДЕх ИНСТИТУТ ФЮР АНГЕВАНДТЕ ФОРШУНГ ГмбХ (DE) | | Изобретатели: | Вурбс Гуидо (DE)
Крюгер Бертольд (DE) | | Патентообладатели: | БЕТРИБСФОРШУНГСИНСТИТУТ ФДЕх ИНСТИТУТ ФЮР АНГЕВАНДТЕ ФОРШУНГ ГмбХ (DE) | | Патентный поверенный: | Емельянов Евгений Иванович |
Реферат | |
Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей. Изобретение использует метод триангуляции, при котором регулируют угол между поверхностью и измерительным лучом, создаваемым лазером. Образованное на поверхности световое пятно должно быть тем меньше, чем точнее должно быть разрешение. На практике в этих диапазонах возникают явления интерференции, которые в виде пятнышек искажают измеряемый сигнал посредством шумов. Изобретение значительно улучшает обрабатываемость полученных сигналов за счет того, что рассеянный или отраженный от поверхности световой пучок оптически разлагается в зависимости от угла на два частичных пучка приблизительно с одинаковым распределение поверхностей интенсивности перпендикулярно направлению излучения и что оба световых пучка детектируют затем фотодиодами и по сигналам определяют параметры шероховатости. 2 с. и 5 з.п.ф-лы, 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента