|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ ФОРМЫ ОБОЛОЧКИ ВРАЩЕНИЯ |  |
Номер публикации патента: 2242707 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01B005/08 G01B005/20 | | Аналоги изобретения: | SU 1612203 A3, 07.12.1990. SU 1693354 A1, 23.11.1991. SU 2240276, 21.03.1969. RU 2008610 C1, 28.02.1994. RU 2052763 C1, 20.01.1996. |
| Имя заявителя: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Комсомольский-на-Амуре государственный технический университет (RU),Новиков Борис Александрович (RU) | | Изобретатели: | Новиков Б.А. (RU) | | Патентообладатели: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Комсомольский-на-Амуре государственный технический университет (RU)
Новиков Борис Александрович (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при измерении отклонений формы преимущественно крупногабаритных оболочек вращения. Сущность: на этапе изготовления, когда все точки доступны для контроля, выполняется полный контроль способом измерения радиус-векторов () и регистрируются отклонения формы (начальные отклонения).
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента