SU 1775598 A1, 02.01.1991. RU 2256149 C2, 29.08.2003. RU 92015506 A, 20.07.1995. SU 1736245 A1, 21.09.1989. SU 1320658 A1, 21.02.1986. SU 729439, 25.04.1980.
Имя заявителя:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский энергетический институт (технический университет)" (ГОУВПО "МЭИ(ТУ)") (RU)
Изобретатели:
Старостин Евгений Михайлович (RU) Гавриленков Владимир Андреевич (RU) Зиенко Станислав Иванович (RU)
Патентообладатели:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский энергетический институт (технический университет)" (ГОУВПО "МЭИ(ТУ)") (RU)
Реферат
Предлагаемое техническое решение относится к измерительной технике и может быть использовано в приборостроении, светотехнике, медицине, термометрии и т.п. Техническая задача, решаемая предлагаемым способом, состоит в повышении точности измерения геометрических параметров объектов за счет уменьшения влияния колебания объекта измерения в поперечной плоскости. Способ заключается в том, что направляют плоский пучок выходящих из точки световых лучей под фиксированным углом, регистрируют след отраженных лучей, регистрацию следа отраженных лучей осуществляют на плоском экране, при помощи видеодатчика с двухкоординатным фотоприемником получают первичную информацию о форме и размерах кривой, являющейся геометрическим местом следов отраженных лучей, передают ее в компьютер, выполняют компьютерную обработку сигнала, определяют координаты точек xi, уi на указанной кривой в окрестности ее экстремума и вычисляют диаметр
Поиск патентов
Получить полное описание патента