|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ ОТ ПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ |  |
Номер публикации патента: 2175753 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01B011/00 G01B021/00 | | Аналоги изобретения: | SU 1765691 A, 19.04.1990. SU 1610252 A, 12.12.1988. US 5337145 A, 09.08.1994. SU 572646 A, 17.07.1975. |
| Имя заявителя: | Московский государственный технологический университет "СТАНКИН" | | Изобретатели: | Леун Е.В.
Серебряков В.П.
Шулепов А.В.
Загребельный В.Е.
Рожков Н.Ф.
Василенко А.Н. | | Патентообладатели: | Московский государственный технологический университет "СТАНКИН" |
Реферат | |
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения отклонений от прямолинейности. В способе за счет преобразования лазерного излучения формируется набор разночастотных дифракционных порядков, из которого создают две группы дифракционных порядков. Каждая группа дифракционных порядков формирует две интерференционные картины. В результате преобразования интерференционных картин получают два выходных сигнал. О смещении объекта судят по пропорциональному изменению частоты выходных сигналов. Изобретение позволяет уменьшить количество фотоприемников при одновременном увеличении числа контролируемых координат. 4 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента