ВНИМИ, ВНИПИГОРЦВЕТМЕТ. Инструкция по наблюдениям за сдвижением горных пород и земной поверхности при подземной разработке рудных месторождений. - М.: Недра, 1988. SU 1810543 A1, 23.04.1994. SU 1573188 A1, 23.06.1990. RU 2160837 C2, 20.12.2000. RU 2215144 C2, 27.10.2003. САМАРЦЕВ Г.И. Прогнозирование сдвижения горных пород при разработке рудных телограниченного простирания (автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук). - Л.: 1989.
Имя заявителя:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Пермский государственный технический университет" (RU)
Изобретатели:
Шадрин Анатолий Григорьевич (RU) Шадрин Михаил Анатольевич (RU)
Патентообладатели:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Пермский государственный технический университет" (RU)
Реферат
Изобретение относится к горнорудной промышленности и может быть использовано для охраны объектов на поверхности от вредного влияния подземных горных работ. Техническим результатом изобретения является снижение экономических, трудовых и временных затрат при полной безопасности работ, а также повышение точности соответствия угловых параметров изменившимся горно-геологическим условиям при освоении более глубоких горизонтов месторождения. Для этого предварительно выполняют анализ горно-геологических условий залегания и разработки запасов, при котором определяют заглубленность горной выработки H/L, где Н - глубина горных пород, м; L - пролет выработанного пространства, м; и средневзвешенное значение коэффициента крепости пород fcp. Оценивают коэффициент структурного ослабления k, который изменяется в пределах от 1 до 0,4 в зависимости от слоистости и нарушенности массива. Вычисляют комплексный показатель структуры и крепости подрабатываемого массива n=kfcp. Используя полученные значения горно-геологических факторов, по номограмме определяют основной угол сдвижения , а углы сдвижения и вычисляют с учетом угла падения залежи по формулам: =-cosn, =+cosn. 5 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента