RU 2246251 C1, 20.02.2005. RU 2113166 C1, 20.06.1998. US 2003195427 A1, 16.10.2003. САТЫБАЛДИНА А.Е. Исследование и разработка методического подхода к оценке прогноза и коррекции функционального состояния человека-оператора сложных систем управления. Автореф. дисс., 2003, с.7-19. DLUSSKATIA IG et al. Indicator of adrenoreceptors in cell membranes:reference values and informative validity in the assessment of the cardiovascular system. Aviakosm Ekolog Med. 1996; 30 (4):46-51.
Имя заявителя:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Московский государственный строительный университет (ГОУ ВПО МГСУ) (RU)
Изобретатели:
Ишков Александр Дмитриевич (RU) Милорадова Надежда Георгиевна (RU) Митина Наталья Павловна (RU)
Патентообладатели:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Московский государственный строительный университет (ГОУ ВПО МГСУ) (RU)
Реферат
Изобретение относится к области медицины, а именно к психологии оценки индивидуальных различий. Осуществляют регистрацию электрической активности сердца и вычисление уровня стресса с помощью прибора «Viport event recorder». Индекс стресса определяют в состоянии расслабления сразу после проведения сеанса электротранквилизации и в интервале от 5 до 15 минут после проведения 2-часового занятия. Сравнивают полученные значения и при превышении индекса стресса после занятия в пределах 12% диагностируют высокий уровень профессиональной адаптации, от 12% до 21% - средний, от 21% до 32% - низкий, свыше 32% - опасно низкий уровень профессиональной адаптации преподавателя. При этом индекс стресса в состоянии расслабления сразу после проведения сеанса электротранквилизации определяют как среднее арифметическое не менее чем 5 измерений, проведенных в разные дни. Сеанс импульсного воздействия проводят с помощью аппарата для электротранквилизации «Микро-Лэнар». Способ расширяет арсенал средств для диагностики уровня профессиональной адаптации преподавателя технических дисциплин. 1 з.п. ф-лы.
Поиск патентов
Получить полное описание патента