|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ДИАГНОСТИКИ ОТКЛОНЕНИЙ НЕРВНО - ПСИХИЧЕСКОГО РАЗВИТИЯ ДЕТЕЙ |  |
Номер публикации патента: 2171625 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | A61B005/16 | | Аналоги изобретения: | СЕМЕРНИЦКАЯ Э.Г. и др. Методика адаптированного нейропсихологического исследования для детских невропатологов. - М.; Метод.реком. 1988, с.21. RU 95109558 A1, 10.06.1997. RU 2124860 C1, 20.01.1999. |
| Имя заявителя: | Нижегородская государственная медицинская академия | | Изобретатели: | Халецкая О.В.
Трошин О.В.
Халецкий И.Г. | | Патентообладатели: | Нижегородская государственная медицинская академия
Халецкая Ольга Владимировна
Трошин Олег Владимирович
Халецкий Игорь Геннадьевич |
Реферат | |
Изобретение относится к области медицины и может быть использовано в функциональной диагностике. Предъявляют тестовый материал детям в возрасте от 1 месяца до 16 лет, состоящий из набора нейропсихологических проб, позволяющих исследовать высшие мозговые функции (ВМФ). Исследование осуществляют по 10 основным группам признаков: 1 - общая маторика, 2 - мелкая маторика, 3 - навыки самообслуживания, 4 - пространственный гнозис, 5 - зрительный гнозис, 6 - навыки рисования, 7 - общение, 8 - речь, 9 - память, 10 - чтение. В компьютерную программу вводят семибалльные шкалы оценок результатов нормальных реакций для каждой возрастной группы. При отклонении от нормального диапазона на 1-12 баллов диагностируют легкую степень отклонения нервно-психического развития, на 13-23 балла - умеренную степень, на 24-30 баллов - среднюю степень, более 30 баллов - выраженную степень нервно-психического развития. Способ позволяет повысить точность диагностики. 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента