На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОКАЗАНИЙ К ПРОВЕДЕНИЮ ПОВТОРНОЙ ОПЕРАЦИИ ЛАЗИК МЕТОДОМ ПЕРСОНАЛИЗИРОВАННОЙ АБЛЯЦИИ ПОСЛЕ КОРРЕКЦИИ МИОПИИ, ГИПЕРМЕТРОПИИ И АСТИГМАТИЗМА | |
Номер публикации патента: 2362526 | |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | A61F009/008 A61B003/10 | Аналоги изобретения: | CHAYET AS et aL Laser in situ keratomileusis for simple myopic, mixed, and simple hyperopic astigmatism, J. Refract Surg. - 1998, Apr. 14 (2 Suppi), p.175-176. RU 2195907 C2, 10.01.2003. RU 2320023 C1, 10.11.2008. ДВАЛИ М.Л. и др. Коррекция индуцированной аметропии и докоррекция остаточной аметропии после рефракционных операций. Сб. науч. ст.«Современные технологии катарактальной и рефракционной хирургии - 2005». - Москва, 2005, с.354-359. ИСМАИЛОВ М.И. Исследование роли аберраций оптической системы глаза в офтальмохирургии. Автореферат дисс. на соиск. уч. степ. д.м.н. - Москва, 2003. MULARONI A. et al. Two-step LASIK with topography-guided ablation to correct astigmatism after penetrating keratoplasty. - J. Refract. Surgery, 2006, Jan-Feb, vol.22, |
Имя заявителя: | Федеральное государственное учреждение "Межотраслевой научно-технический комплекс "Микрохирургия глаза" им. академика С.Н. Федорова Федерального агентства по высокотехнологичной медицинской помощи" (RU) | Изобретатели: | Качалина Галина Федоровна (RU) Иванова Елена Владимировна (RU) | Патентообладатели: | Федеральное государственное учреждение "Межотраслевой научно-технический комплекс "Микрохирургия глаза" им. академика С.Н. Федорова Федерального агентства по высокотехнологичной медицинской помощи" (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к офтальмологии и может быть использовано для определения показаний к проведению персонализированной абляции после коррекции миопии, гиперметропии и астигматизма методом ЛАЗИК. Перед проведением повторной операции измеряют индуцированные аберрации высших порядков. Если значение среднеквадратичного отклонения волнового фронта, вызванное аберрациями высших порядков (RMSHO) больше 1,4 мкм и толщина роговицы после расчета схемы повторной операции при условии удаления индуцирован
|