US 20070010731 A1, 11.01.2007. US 20050249432 A1, 10.11.2005. US 20070040122 A1, 22.02.2007. WO 0007669 A1, 17.02.2000. US 2004066911 A1, 08.04.2004.
Имя заявителя:
КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС ЭЛЕКТРОНИКС, Н.В. (NL)
Изобретатели:
ВАНГ Венли (US)
Патентообладатели:
КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС ЭЛЕКТРОНИКС, Н.В. (NL)
Приоритетные данные:
30.05.2007 US 60/940,722
Реферат
Изобретение относится к области позитронной визуализации и реконструкции данных, собираемых в процессе позитронной эмиссионной томографии (PET). Техническим результатом выступает создание устройства и способа для позитронной эмиссионной томографии, собирающей данные проекций, вдоль линий срабатывания, которые пересекают идентифицированную представляющую интерес область, характеризующую позитронные аннигиляции в обследуемом объекте. В состав устройства входят: позитронный эмиссионный сканер (102), блок (146) итерационной локальной реконструкции, реконструирующий пространственно усеченные данные проекций, собранных вдоль линий срабатывания, которые пересекают подобласти объекта, чтобы сформировать данные пространства изображения, характеризующие объект и дополнительно содержит блок (606) формирования прямых проекций; блок (624) формирования обратных проекций, получаемых обратной проекцией, для обновления оценки изображения; также в состав устройства входит блок (142) компенсации движения компенсирует движение объекта; блок (148) объединения изображений объединяет данные пространства изображения с данными пространства другого изображения, характеризующими объект; машиночитаемый носитель информации, содержащий команды выполнения способа, идентификации представляющей интерес области объекта, пространственное усечение собранных данных проекций, при этом этап пространственного усечения включает идентификацию данных проекций, собранных вдоль линий срабатывания, пересекающих представляющую интерес область, выполнение итерационной локальной реконструкции пространственно усеченных данных, собранных при позитронном эмиссионном обследовании объекта. 3 н. и 11 з.п. ф-лы, 7 ил., 1 табл.
Поиск патентов
Получить полное описание патента