|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ИНДИВИДУАЛЬНОЙ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ К ЛАЗЕРНОМУ ВОЗДЕЙСТВИЮ |  |
Номер публикации патента: 2099713 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01N033/49 A61B008/00 | | Аналоги изобретения: | Давыдова Н.А. Определение индивидуальной чувствительности больного к облучению аппаратом магнитолазерной терапии АМЛТ-0,1-1. Сб. статей, посвященный 10-летию городской клинической больницы N 7. - Екатеринбург: 1992, с.11 и 12. |
| Имя заявителя: | Ефимова Елена Геннадьевна | | Изобретатели: | Ефимова Елена Геннадьевна
Лутай Александр Васильевич
Ватагин Владимир Сергеевич
Усольцева Надежда Васильевна | | Патентообладатели: | Ефимова Елена Геннадьевна
Лутай Александр Васильевич
Ватагин Владимир Сергеевич
Усольцева Надежда Василье |
Реферат | |
Использование: в медицине, а именно в физиотерапии, для определения индивидуальной чувствительности к лазерному воздействию арсенид-галлиевым лазерным излучением за счет спектрального анализа структуры сыворотки крови до и после лазерного воздействия. Технический результат: способ повышает эффективность применения лазерного излучения с лечебной целью, что способствует снижению продолжительности временноей нетрудоспособности. Сущность: проводят спектральный анализ структуры сыворотки крови путем интерференционной спектроскопии с Фурье-преобразованием в интервале 80 - 550 см-1 аппаратом ЛАФС-1000 с последующим сопоставительным анализом спектрограммы после воздействия с исходной; при изменении спектрограммы после лазерного воздействия по сравнению с исходной определяют наличие индивидуальной чувствительности к лазерному воздействию. Лазерное воздействие и спектроскопию ведут при температуре 37oC. Облучение сыворотки крови лазерным излучением ведут после регистрации исходной спектрограммы непосредственно в ячейке интерферометра. 2 з п. ф-лы, 4 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента