Промышленная Сибирь Ярмарка Сибири Промышленность СФО Электронные торги НОУ-ХАУ Электронные магазины Карта сайта
 
Ника
Ника
 

Поиск патентов

Как искать?
Реферат
Название
Публикация
Регистрационный номер
Имя заявителя
Имя изобретателя
Имя патентообладателя

    





Оформить заказ и задать интересующие Вас вопросы Вы можете напрямую c 6-00 до 14-30 по московскому времени кроме сб, вс. whatsapp 8-950-950-9888

На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»


СПЕКТРОСКОП

Номер публикации патента: 2457446

Вид документа: C1 
Страна публикации: RU 
Рег. номер заявки: 2010149170/28 
  Сделать заказПолучить полное описание патента

Редакция МПК: 
Основные коды МПК: G01J003/00    
Аналоги изобретения: SU 1094432 А, 07.03.1988. SU 1742634 A1, 23.06.1992. RU 2105274 C1, 20.02.1998. US 4087183 A, 02.05.1978. 

Имя заявителя: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Казанский государственный технический университет им. А.Н. Туполева (КГТУ-КАИ) (RU) 
Изобретатели: Павлычева Надежда Константиновна (RU)
Муслимов Эдуард Ринатович (RU) 
Патентообладатели: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Казанский государственный технический университет им. А.Н. Туполева (КГТУ-КАИ) (RU) 

Реферат


Изобретение относится к области оптического приборостроения и может быть использовано при создании спектральных приборов. Спектроскоп содержит последовательно расположенные по оптической оси входную щель, проекционный объектив, вогнутую пропускающую дифракционную решетку с криволинейными штрихами и переменным расстоянием между ними и регистрирующее устройство. Проекционный объектив обеспечивает формирование изображения входной щели в центре кривизны заштрихованной поверхности. Радиус кривизны штрихов решетки и их шаг являются функциями координаты в меридиональной плоскости точки на решетке, а также зависят от радиуса кривизны решетки, частоты штрихов в вершине решетки, средней длины волны рабочего спектрального диапазона и порядка дифракции. В спектроскопе реализуется схема прямого видения и обеспечивается достаточно высокое разрешение при заметно большей, чем у аналогов, апертуре. 1 з.п. ф-лы, 2 ил.

Дирекция сайта "Промышленная Сибирь"
Россия, г.Омск, ул.Учебная, 199-Б, к.408А
Сайт открыт 01.11.2000
© 2000-2018 Промышленная Сибирь
Разработка дизайна сайта:
Дизайн-студия "RayStudio"